常见问题解答

在这里,我们提供了常见问题、流程和程序的完整列表——请查找特定于滤光片的问题和答案。显示为列表

角度调节

滤光片的光谱参数和使用角度对应。

AOI effect on RazorEdge spectra 当光从入射角(AOI)为0°(法向入射)增大到较大角度时,薄膜滤光片的光谱向较短波长方向移动(即“蓝移”)。在大多数情况下,滤光片光谱在较大的角度下会发生高度扭曲,而对于s偏振光和p偏振光,其偏移量可能会有显著差异。你所经历的光谱变化程度取决于滤光片的设计。要了解角度调节如何影响Semrock滤光片的光谱性能,请查看我们的技术说明:非常规入射角下的滤光片光谱

VersaChrome® 可调式带通滤光片

VersaChrome滤光片是一种新型光学滤光片:薄膜滤光片可以通过调节入射角在很宽的波长范围内进行调谐,而光谱性能基本上没有变化。关于 可调式滤光片 的更多信息可以在我们的技术库中找到。

如果您对特定应用程序有进一步的问题,请联系技术支持以获得帮助。

MyLight™

试着用MyLight调整自己的角度™. 选择你的滤光片,点击光谱上方的蓝色“MyLight”按钮,以任何你想要的角度来模拟理论数据。
滤光片的使用角度和光谱参数一一对应。本公司的标明光谱参数对应标明使用角度。使用角度超过标明角度的,请使用My Light™ 在线建模工具。角度增加,光谱“蓝移”。

入射角 AOI和锥半角 CHA

入射角 AOI和锥半角 CHA

入射角或AOI是准直光束入射到滤光片的第一表面上的角度,相对于表面法线测量。锥半角(CHA)是指与非准直入射光束相关的角度范围,并从AOI到最大锥角进行测量。


Angle of Incidence and Cone Half-angle

 

改变入射光的AOI或CHA将改变滤光片的光谱响应。有关不同类型的Semrock滤光片如何响应AOI变化的更多信息,请查看我们的技术说明: 非常规入射角下的滤光片光谱. 对CHA的光谱响应取决于许多因素,因此请联系技术支持以讨论您的特定应用。

网站上每个滤光片的“规格 Specifications ”选项卡中列出了保证滤光片性能的适用的AOI和CHA范围。给出的AOI和CHA规范是排他的;当您在网页上标定的角度范围之外使用时,滤光片的光谱表现可能不符合网站上列出的“规格 Specifications”。.

ASCII 数据

ASCII数据通常是一个具有两列的文本文件。第一列是波长(以 nm 纳米为单位),第二列是该波长处滤光片的相应透过率值。透射值的范围为0到1(或0%到100%)。您可以在Semrock网站上下载所有滤光片的ASCII数据。大多数滤光片显示实际测量的数据,而一些滤光片列出了理论数据。如下图所示,“Measured”表明显示的数据是测量值。

查看滤光片的详细信息时,您将在图形的右侧找到该滤光片的ASCII数据链接。单击ASCII数据以保存文本文件的副本,该文件可用于绘制滤光片的光谱图。

 

如果需要单个滤光片的理论数据,请使用图形上方的蓝色MyLight按钮,对理论数据进行建模,并下载ASCII数据。

带宽

Semrock使用“可制造的规格”方法来定义我们的BrightLine®带通滤光片的带宽。我们相信这种方法可以更准确地反映光学系统中滤光片的性能。

如图所示,滤光片光谱(红线)必须位于非阴影区域内。平均透射必须超过透射区域中的要求Tavg(%),该规范具有特定的中心波长(CWL)和称为保证最小带宽(GMBW)的宽度。滤光片部件号的格式为FF01- {CWL} / {GMBW}。

透射必须低于阻挡区域中的阻挡级别要求(OD)。光谱的精确形状在过渡区域中未指定。但是,通常,滤光片通带的半高全宽(FWHM)大约比GMBW带宽的CWL大1%,


因此,对于图中所示的示例,FF01-520 / 35滤光片的GMBW为35 nm,FWHM为35 nm + 520 nm的1%或40 nm。

通光孔径

因为光学镀膜是延伸到每个Semrock滤光片的边缘,边缘需要切割、打磨、装配、固定,那么,通光孔径将小于每个滤光片的横向尺寸。

对于无外框的圆形滤光片,我们保证其通光孔径大于外径的85%。对于方形和矩形的产品,保证的通光孔径将大于滤光片横向尺寸的80%,并且为椭圆形(见下图所示)。带外框或者涂黑的滤光片的通光孔径取决于外框的尺寸和厚度。请注意:所有滤光片的规格仅在通光孔径内得到保证。

可以在“规格”选项卡上找到每个单独滤光片的特定信息。如果没有特殊标明,则都为默认的通光孔径值。(见上一段文字描述)

如果您需要大于默认通光孔径或者小于默认通光孔径的产品,我们亦可以提供,请联系我们获得单独的产品型号和报价。

Housed filter showing clear aperature example

定制镀膜

如果您想获取定制镀膜滤光片的报价,请填写我们的 定制需求参数表(英文) 然后发邮件到 sales@semrock.cn.

我们的大量离子束溅射IBS技术可提供很好的性能,可重复性和价值。我们的设计师将根据您对光学滤光片的需求进行设计,并在其他领域(例如光学模组设计和测量平台)中增加价值。从原型到生产,您都可以依靠我们提供的设计建议,无与伦比的性能和坚如磐石的可靠性。要了解有关如何从我们的经验中受益的更多信息,请联系 Semrock的技术支持联系我们讨论所有可用选项。

定制尺寸

对于我们网站上的大多数目录产品,Semrock 提供尺寸定制的服务。如果您需要一个无外框(未装配)的圆形或方形的滤光片,或者想把产品装配(安装)在 Semrock 的标准尺寸的金属铝环中,请使用在线的定制尺寸工具来计算定制尺寸产品的价格,您可以把产品型号和价格告诉您附近的本地经销商来进行购买。

提醒:大多数的定制尺寸的滤光片都可在一周内发货。请您在对应的产品页面下方的定制尺寸计算区域中,简单输入您需要的圆形的直径、方形的尺寸或者需要的外框的直径。Semrock 目前支持所有从 5 mm 到 50 mm 之间的整数毫米的尺寸。此外,我们也支持常用的英制尺寸,如 12.7 mm (1/2 inch)、25.4 mm (1 inch)、和 50.8 mm (2inches),约可在一周内发货。如果您需要一个非上述所列举的尺寸,比如说您需要直径 31.4mm 的无外框的产品?我们也可以提供!请联系我们的销售人员或者本地的代理商,我们将根据要求给您报价并提供货期(一般需要两周),Semrock 也提供标准尺寸的铝制外框/边框,包括以下尺寸: 12.5mm、25mm(和 25mm Sutter 螺纹框)、32mm、和 50mm。

每一个支持定制尺寸的产品页面上都可以看到尺寸价格计算器,基质/裸片(Substrate)的厚度和公差都和对应型号的标准产品一样,并在产品页面列出,请点击产品光谱图下方的产品参数(Specification)来了解详情。

如果您需要的产品尺寸超过上述限制,请联系Semrock sales@semrock.cn 或者 联系我们 取得报价。

Custom Sizing

滤光片的有效折射率 

Semrock的“有效折射率”neff(也称为“滤光片有效指数”)和折射率n之间有什么区别?

neff 是特定于滤光片的值,用于计算与入射角(AOI)相关的光谱特征的波长偏移。它与制造滤光片的基材的折射率n不相关。对于熔融石英,在632.8 nm的特定波长下n = 1.4570。另一方面,neff 描述整个滤光片,包括滤光片两侧的镀膜以及这两侧镀膜之间的基材。此外,取决于所有滤光片的设计,每种滤光片的 neff 不同,即使所有滤光片都使用了相同的基材,neff 也可能不同。

滤光片具有光谱特征,例如,特定波长处的光谱边缘标记了透过和阻挡之间的过渡。这些滤光片的一个特点是,随着AOI的增加,光谱特征会转移到较低的波长,即光谱“蓝移”。

由于光学系统通常会以AOI> 0°的角度入射到滤光片上,因此能够计算出光谱特征随AOI的波长移动量是非常有用的。如技术说明 非常规入射角下的滤光片光谱,中所述,根据包含neff 的公式,波长λ0处的光谱特征将移至AOI =θ处 ::

Equation

滤光片的安装方向 

BrightLine滤光片具有极高的耐用性,您可以很容易将其安装在显微镜的滤镜盒、滑块和滤光片转轮中。为获得最佳性能,应按照正确的方向把滤光片安装到显微镜中,请参照以下图解学习滤光片在显微镜的正确安装方向:

已装配好带边框的激发片和发射片的正确安装方向

滤光片上的箭头方向与光路中光的方向一致。具体如下: 激发片的箭头方向是从光源指向二向色镜, 发射片的箭头方向是从二向色镜指向眼睛或相机。

二向色镜通常未装配在镜框内,也应正确安装:二向色镜有反射镀膜的一面正对激发片或光源和样品。如下图所示。

 

二向色镜和其他未装配的滤光片的安装方向

二向色镜和其他未装配的无边框的滤光片都有特征性的方向标记,通过这些标记,可以找出镀膜面,需要迎光照射来的方向。 方向性的标记通常在滤光片的表面(光刻、开槽雕刻线、标记黑点等),或者在滤光片的侧边,标记为箭头(^),这些标记在下图中展示,可作为对应的方向指导。

  • Semrock 商标:商标面正对着入射光。
  • 刻线:在滤光片的某一面的下方有刻线,刻线的面正对着入射光。稍微倾斜一定的角度能更加容易的看清刻线。
  • 点: 在滤光片的某一面有一个小点,小点的面正对着入射光。稍微倾斜一定的角度能更加容易的看清小点。
  • 箭头: 在滤光片的侧边,标记为箭头(^),箭头的方向就是光行进的方向。

请注意: : 很多滤光片都是双面镀膜的,所以区别镀膜面并无意义,关键是安装方向要正确。镀膜面对着光照射进来的方向!

更多资源

完整的显微镜立方体组装操作说明以PDF 格式和视频提供。点击查看

理解滤光片、基板和外壳厚度

 

 

 

 

 

Semrock提供两种类别的目录滤光片:未装配外框的滤光片,例如二向色分光镜,反射镜和可调式滤光片,或安装在黑色阳极氧化铝外壳中的带框滤光片。带框的滤光片包括带通滤光片,边缘滤光片和一些二向色镜分束镜。对于未安装外框的滤光片,未安装的滤光片厚度和未安装的基材厚度是相同的。对于已装配的带外框的滤光片,安装外框后的滤光片厚度和未安装的裸片基材厚度不同,因为安装外框的滤光片的厚度与外框厚度相同。


每个装配好的带框的滤光片均有3.5毫米或5.0毫米的标准滤光片(外框)厚度。带框的3.5毫米滤光片用作滤光片组的一部分通常是发射滤光片。5.0毫米滤光片是滤光片组最常用的激发片。3.5毫米厚的外框可容纳1.05毫米至2.0毫米的裸片基材厚度;5.0毫米厚的外框,可容纳从1.05毫米到3.5毫米的裸片基材。


每个标准目录产品,其安装在外框中的每个滤光片的尺寸在“Description and Pricing 说明和定价”的选项卡(见下文)中显示为“外框直径x外框厚度”。

 

 

以GFP-3035D通用滤光片组中的激发片和发射片滤光片为例。FF02-472/30-25激发片安装在5.0毫米铝制外框中,如下所示。

 

 

FF01-520/35-25发射片安装在3.5毫米铝制外框中,如下图所示。

 

 

对于目录配置中的二向色镜分束镜和其他未装配外框的滤光片,“Description and Pricing 描述和定价”选项卡上的滤光片尺寸显示为“矩形尺寸x标称基材厚度”。

如下图所示,GFP-3035D滤光片组的FF495-Di03-25x36二向色镜分束镜尺寸为25.2 mm x 35.6 mm,标称基板厚度为1.1 mm(通常在规格标签上列为1.05 mm),并且是不带外框的。

 

 

 

滤光片的物理规格的详细信息也列在产品的“Specifications 规格”选项卡上(请参阅下文)。

 

 

该选项卡列出了滤光片的厚度,无论是已安装外框的还是未安装外框的,未安装时的基板厚度,以及滤光片和基板厚度的尺寸公差(此处以绿色边框显示)。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

定制尺寸的未安装外框的圆形或矩形的滤光片的厚度是指基材的厚度。

Semrock目录滤光片的镀膜基材厚度为0.5毫米、1.05毫米、2.0毫米、3.0毫米、3.5毫米和6.0毫米;每个产品系列都涂在某一个特定的厚度上。购买前,请确保验证滤光片的厚度以及该厚度是否适合安装和应用要求。

有关滤光片,基材或外框厚度的问题,请联系Semrock Semrock 技术支持.

二向色镜分束镜的平整度 / RWE 分类 

波前扭曲会导致成像质量降低,因为此时,对比度降低了,也损失了分辨率。在若干显微镜应用中,降低波前扭曲对于达到该显微镜学方式来说尤为重要。

Semrock 提供很多滤光片产品,因为不同的应用对于平整度有不同的要求,所以 Semrock 的产品有不同等级的平整度/反射波前差(Flatness/RWE)。 下表列出的平整度区分提供一个选择产品的教学式的途径,以帮您选择最适合您的应用的平整度对应的滤光片产品。

对于某给定的应用,如何决定合适的平整度?最重要的参数通常是照射到二向色镜分色镜表面上的光斑直径。以下表格显示了 对应某个应用来说,最合适的 Semrock 产品型号,并列出了最大的光斑直径数值。为了给出进一步的信息,和其他的光斑直径和显微镜学举例,我们提供了白皮书和技术文档 [1, 2]  ,这些文档会给出进一步的关于透射波前差 TWE、反射波前差 RWE 、显微镜方法、和给系统设计者的指南。

[1]  如何根据平整度/反射波前差来选择合适显微镜方法的二向色镜分光镜 (英文)

 

平整度/反射波前差 分类
Flatness / RWE

举例 
应用

名义曲率半径
Nominal Radium of Curvature

最大反射光斑直径
Maximum Reflected Beam Diameter, mm

反射波前差
Reflected Wavefront Error at 632.8 nm, PV

二向色镜 / 分色镜 产品系列 和 产品型号举例
Example of Part Number

超高分辨率 / 全内反射荧光
Super-resolution / TIRF

 

TIRF, PALM, STORM, STED

 

~ 1275 米 meters

22.5

< 0.2λ

BrightLine® Laser (Di03-R405-t3-)

~ 255 米 meters

10

< 1λ

BrightLine® Laser (Di03-R405-t1-)

分离图像
Image-splitting

 

使用基于像素探测器的分离发射信号的应用,如分屏器,FRET ,把图像反射到另外的地方
Splitting of emission signal on a pixel based detector

 

~ 1275 米 meters

37

< 0.2λ

BrightLine® Image-splitting
(FF509-FDi02-t3-)

 

~ 100 米 meters

10

< 2λ

BrightLine® Image-splitting (FF509-FDi01-)

激光器相关的应用
Laser

共聚焦, 合并/分离激光束
Confocal, Combining/splitting laser beams

~ 30 米 meters

2.5

< 6λ

BrightLine® Laser (Di02-R405-)

RazorEdge Dichroic™  (LPD02-488RU-)

LaserMux™ (LM01-503-)

StopLine® Notch Dichroic (NFD01-488-)

常规落视荧光显微镜,如汞灯、LED 光源的荧光显微镜
Standard Epi-fluorescence

宽场荧光
Widefield fluorescence

~ 6 米 meters

不适用该方法
Not Applicable

远大于>> 6λ

BrightLine® (FF495-Di03-)

光密度OD

光密度 (OD) 是一种方便的工具,用于描述光通过高阻挡滤光片的传输情况(当透过率非常小时)。OD 定义为透过率对数(以 10 为底)的负数,其中透过率在 0 和 1 之间变化。

OD = – log10 (T)
or
T = 10-OD

光密度本底噪声:

通过精心优化我们的测量设备和方法,Semrock能够提供优化的测量宽带光密度(OD) 方法。以下是此网站上显示的大多数测量数据的典型OD噪声本底限制。

  • 对于 320 到 1120 nm 之间的波长,接近或低于 3e-7(光密度 6.5)的透射值受到测量噪声限制。
  • 对于 < 320 nm 和 1120 - 1500 nm 之间的波长,接近或低于 3e-6(光密度 5.5)的透射值受到测量噪声限制。
  • 对于 > 1500 nm 的波长,接近或低于 1e-5(光密度 5.0)的透射值受到测量噪声限制。

此外,对于某些滤光片和/或某些阻挡波长范围,显示了噪声本底仅为约 OD 4 的测量结果。

transmission OD OD rules Optical Density graph

产品型号

通用产品命名约定如下:

GMBW = Guaranteed Minimum Bandwidth

GMBW =保证的最小带宽 有时,在直径/尺寸之后,零件号会有一个额外的后缀。添加的“ -D ”表示未装配、无外框的产品。在这种情况下,直径25表示玻璃基材的直径为25mm。添加“ -N ”要求不作任何标记部件,并且不包括Semrock商标,部件号或指示正确方向的箭头。

对于多带或多陷波滤光片,多个通带将以xxx / yyy格式显示,如以下多带通二向色镜所示:

Product naming conventions dual bandpass

 

对于具有多个等级可供购买的零件,等级是通过以下方式指定的: 产品命名约定与等级

product naming conventions with grade

 

 

以下是帮助您关联零件号和产品系列的指南。不适用于用户定制的产品型号。

 

缩写 代表... 产品家族
BLP 基本型长通 EdgeBasic™
BSP 基本型短通 EdgeBasic™
-D 未装配,无金属外框 全部
Di 二向色镜 BrightLine®
E E-等级 滤光片 RazorEdge®, StopLine®
Em 发射片 BrightLine®
FDi 最平二向色镜, 用于成像应用 BrightLine®
FF 荧光滤光片 BrightLine®
FRET 荧光共振能量转移 BrightLine®
Hg 汞的元素符号,汞灯线 MaxLamp®
LD 激光二极管,半导体激光器 MaxDiode®
LF 基于激光器的荧光 BrightLine®
LL 激光线 MaxLine®
LM 激光合束 Laser mux LaserMUX
LP 长通 BrightLine®, RazorEdge®
LPD 长通二向色镜 RazorEdge Dichroic
M 发射片 BrightLine®
-N 无标记 All
NF 陷波滤光片 StopLine®
NIR 近红外 Near-IR
PBP 偏振带通 Polarizing bandpass
QD 量子点 BrightLine®
R 反射的 BrightLine®, RazorEdge®
S S-级别滤光片 RazorEdge®, StopLine®
SDi 短通二向色镜 BrightLine®
SP 短通 RazorEdge®
-STR Sutter 螺纹框 所有 (基材厚度需 ≤ 2 mm )
T 透射 BrightLine®
TBP 可调式带通 VersaChrome®
U U-级别滤光片 RazorEdge®, StopLine®
X 激发片 BrightLine®

像素位移

当成像光路中的滤光片(荧光显微镜中的发射片和/或二向色镜分束镜)偏离光线导致高分辨率 CCD 相机上检测到的图像发生偏移时,会导致像素位移。当使用不同的滤光片组获取同一物体的两个或多个图像,然后重叠以同时查看来自多个荧光团的荧光时,这种位移就会导致问题。由不同荧光团(和不同滤光片组)产生的图像将无法准确关联或组合,因为每个图像根据每个滤光片组中的楔角偏移不同的量。为了消除像素偏移,BrightLine ZERO™ 滤光片组的制造和测试符合严格的容差,以确保在组合多个图像时实现准确的图像配准。

BrightLine ZERO™ 选项保证在转换 Semrock ZERO™ 滤光片组时最坏情况的图像偏移将小于 ± 1 像素,相对于大样本滤光片组的平均图像位置进行测量。

pixel shift 1

这张典型落射荧光几何结构的示意图(如在标准显微镜中)显示了滤光片镀层的楔形面如何导致像素偏移。

pixel shift 2

偏振

当光以非法线入射角入射到滤光片上时,可以通过与光波电场方向相关的两个正交矢量分量来描述光的偏振。偏振被称为“入射平面”,或平行于滤光片表面法线并包含入射光线和反射光线的平面。垂直于入射平面的偏振分量称为“ s”分量,而平行于入射平面的偏振分量称为“ p”分量。

为什么客户的滤光片测量结果与Semrock光谱有所不同?

市面上商业化的分光光度计已针对特定的科学和工业应用进行了优化。由于其设计受到价格和性能要求的限制,因此大多数商用分光光度计的精度不足以准确测量高性能光学滤光片的光谱特性,尤其是具有陡峭光谱边缘和深度阻挡特性的Semrock滤光片。光源、探测器和衍射光栅的功能限制以及它们的组合性能会在此类高性能滤光片的光谱测量中产生伪影。由于存在这些伪影,客户的滤光片频谱测量结果可能与在Semrock进行的测量结果有所不同。

传统分光光度计的灵敏度有限,并且探测光束并非完全单色。由于存在这些局限,实际的滤光片光谱 及其测量结果之间存在三大差异。


1. 圆形钝角
第一个差异是锐利角度的光谱特征的“圆形钝角”(如图2). 这种效应主要是由于分光光度计探测光束的非零带宽造成的。最小带宽受狭缝宽度和光栅周期数量的限制:衍射光 栅区域(每毫米给定的光线数量)越大,则分辨率越高。对于给定的f/#(锥角),光栅区域越大,路径 长度也越长,因此需要更大的仪器。分辨率也可通过减小狭缝宽度的方式增大,但是较窄的狭缝将减少通 过单色仪进入探测器的光的数量,从而降低灵敏度。

2. 本底噪声
光检测器有一个灵敏度限制,超过该限制它就不能报告光强度的变化。该截止水平设置了分光光度计可以测量的最高光密度(OD,定义为 -log10(T)) 因此,测得的 OD 可能会低于实际的滤光片性能。当光照强度低于灵敏度极限时,检测系统将报告零信号,但也会报告检测器内产生的任何噪声。在图表上,这表现为“本底噪声”,对应于分光光度计可测量的最高 OD。在图中,本底噪声是图形左下角的“嘈杂”频谱区域。由于光源光谱和光检测器光谱响应的变化,本底噪声可能与波长有关。

3. 边带测量假象
第三个差异比较独特,是测量从高阻断率到高透过率的非常深的过渡,称为“边带测量假象”(见图 3). 当显示为OD值的曲线时,通常在边缘谱线的中体现为“弯曲”的形式,发生在OD约为2.5〜4.5的范围 内,具体取决于分光光度计和波长。这个测量假象来自于以下因素,除了非零带宽的探测光束,还包括非单色探测光束,在带宽范围外的波长上,它还具有微弱的边带(主要来自光栅上的瑕疵)。当探测光束定 位于深边缘的波长上,探测波长上一侧的边带噪音通阻断光片在其通带内透过,因此,在探测器上记录到较大信号并导致测得较低的OD值。这是测量结果就显示出不是以OD级递减的假象。在商用仪器中,除非添加额外的滤光片,几乎没有能够减少这种边带的问题。

有关Semrock保证滤光片性能的过程的更多信息,请下载我们的白皮书《光学滤光片光谱的测量》

 

 Measurement Issues

 


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


上图蓝色显示Semrock LP03-532RU-25RazorEdge®滤光片的设计光谱。红色显示使用商用分光光度计进行测量。

Sutter 螺纹外框

Semrock与Sutter Instruments公司合作,为我们的光学滤光片设计并引入了一个集成滤光片轮安装环,该环的螺纹与Sutter滤光片转轮中的开口相匹配。通过这种包含在内的安装系统,将滤光片和带螺纹的固定环合并到一个组件中(见图1)。传统上,Sutter滤光轮被设计为可以接受厚度最大为9 mm的光学滤光片,每个滤光片转轮位置均包含一个由滤杯(Cup)和固定环组成的安装硬件系统。Semrock / Sutter集成一体的螺纹环解决方案设计为在卸下滤杯(Cup)和固定环之后安装。消除了对滤杯和外环硬件的需求。



图1:
左:传统安装的光学滤光片。右:Semrock / Sutter螺纹环安装座

请注意,Sutter Instruments 公司的设备中,有些不支持螺纹框,有些不支持传统的平框,请咨询 Semrock 或者 Sutter Instrument 公司后再决定是否购买带-STR的型号。

“Sutter螺纹环”选项可适用于所有Semrock“ Pinkel”(带多波段发射片的单波段激发片)和“ Sedat”(单带激发片和发射片)多色滤光片组。该选项由附加在滤光片组目录零件号上的后缀“ -S01”表示,价格上:带有“ Pinkel”组中每个激发滤光片或“ Sedat”组中每个激发和发射滤光片标称价格溢价20美元。

可以使用Sutter螺纹环选件购买基材厚度≤2 mm的单个目录滤光片。该选项由附加在产品目录号后缀“ -STR”表示,并带有每个带-STR的滤光片价格增加20美元。

 

Sutter 螺纹环用激光标记有箭头,以指示光传播方向(DLP)。

• 激发滤光片:箭头指向螺纹方向上的肩部。当将滤光片插入激发光路径中使用的Sutter Instrument 公司的 Lambda 10(螺纹款)的滤光片轮中时,DLP中的箭头指向显微镜。

• 发射滤光片:箭头指向两个凹口方向,远离肩膀。当将滤光片插入发射光路径中使用的Sutter Instrument 公司的 Lambda 10(螺纹款)滤光片轮中时,DLP中的箭头指向远离显微镜并指向探测器的方向。

STR Arrow Orientation Exciter
Sutter 螺纹环形箭头方向-激发片
  STR Arrow Orientation Emitter
Sutter螺纹环形箭头方向-发射片

有关将安装在Sutter螺纹环中的滤光片安装到Sutter滤光片转轮中的更多详细信息,请阅读 《Sutter螺纹环安装指南》(英文PDF版)

波数

光的“颜色”通常通过功率或强度的分布作为波长的函数来识别。有时可以方便地用“波数”来描述光,其中波数(w)仅等于波长的倒数,因此与频率成正比。

波数通常用于拉曼光谱中,因为特定的拉曼谱线与激光谱线的分离由材料的分子特性决定,并且与使用哪个激光波长激发谱线无关。这意味着该偏移是恒定频率的,与激发波长无关,并且可以方便地用波数表示。

wavenumber formula

 

了解更多信息,请查看我们的技术说明 用波长和波数测量光

Wavenumbers

FAQ questions Angle tuning VersaChrome MyLight AOI angle of incidence CHA cone half angle ASCII Bandwidth Clear-aperture CA Custom Coating Filter-thickness Thickness Orientation Arrow Arrow-direction Optical Density Pixel shift ZERO Pixel-Shift Polarization rayleigh Range Substrate thickness Sutter threaded rings Sutter-threaded-rings STR Wavenumbers Flatness Imaging Part Number OD Blocking GMBW FHWM Guaranteed Minimum Full-width-half-max Theoretical-data Measured-data Flatness-of-a-Dichroic-beamsplitter Pixelshift Orientation-of-a-filter Custom-size Sizing Custom-sizing Filter-sizing Effective Index of Refraction neff