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这些白皮书包括了许多话题,如超快激光、偏振、超高分辨率显微镜、和可调式带通滤光片等

我们也提供了25篇技术期刊文档,包括全内反射荧光(TIRF)、陡率等等

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光学滤光片--适用于基于激光的荧光显微镜

    “ 因为激光具有高亮度、稳定、长寿命及谱线窄等特性,它正逐渐取代了荧光成像应用中的传统宽带 光源。在成像应用中,激光的上述特性可提高可视化的灵敏度,也增加了光通量;激光更具有光束发散 角窄、高度的时空相干性、偏振特性明确等独有特性,从而催生了众多新的荧光成像技术。然而,相对 于宽带光源,当激光以荧光光源的形式出现时,为基于激光的成像系统(如共聚焦和全内反射荧光(TIRF) 显微镜)及其组件提出了新的限制要求。尤其是对光学滤光片有着更特殊的要求 ......” 点击下载PDF文档(中文)


测量光学滤光片的光谱

    “ 光学滤光片在实现各应用的过程中发挥着重要的作用,如荧光显微镜和拉曼光谱仪。在这些应用中, 存在两种不同类型的光束:照明(或激发)光束和信号(或发射)光束。这些光束不仅在光束上不同,其 强度也明显不同:信号光束可比照明光束若数百万倍(甚至更高)。因此,关键的是滤光片能够选择性地 透过所需波长的光,同时也能阻断不必要的光线。这类滤光片的性能由其光谱特性决定,包括信号的透过 效率以及照明光和不需要的发射波长的阻断。特别是,在非常短的波长范围内滤光片要从深过阻断度到高 透过率是非常关键的,也就是陡率和很深的光谱边缘。但是,由于标准测量技术的局限性,经常无法准确 地测定薄膜干涉滤光片的光谱特性,尤其是当有陡深的边缘时更难准确测定。因此,在未通过反复试验法 对滤光片进行试验的情况下,很难确保达到足够的系统级性能。本文,我们将探索通过标准测量技术精确 测量频谱的限制,介绍如何通过更好地理解这些限制以及在必要时进行更复杂的测量,从而达到控制这些 限制的目的 ......” 点击下载PDF文档(中文)


丛集作者:
Turan Erdogan, 博士 - Semrock 创始人和罗切斯特大学的前助理教授
Prashant Prabhat, 博士 - Semrock 应用科学家


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