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测量滤光片的光谱
摘要
滤光片在实现各应用的过程中发挥着重要的作用，如荧光显微镜和拉曼光谱仪。在这些应用中，存在两种不同类型的光束：照明（或激发）光束和信号（或发射）光束。这些光束不仅在光束上不同，其强度也明显不同：信号光束可比照明光束若数百万倍（甚至更高）。因此，关键的是滤光片能够选择性地透过所需波长的光，同时也能阻断不必要的光线。这类滤光片的性能由其光谱特性决定，包括信号的透过效率以及照明光和不需要的发射波长的阻断。特别是，在非常短的波长范围内滤光片要从深过阻断度到高透过率是非常关键的，也就是陡率和很深的光谱边缘。但是，由于标准测量技术的局限性，经常无法准确地测定薄膜干涉滤光片的光谱特性，尤其是当有陡深的边缘时更难准确测定。因此，在未通过反复试验法对滤光片进行试验的情况下，很难确保达到足够的系统级性能。
本文，我们将探索通过标准测量技术精确测量频谱的限制，介绍如何通过更好地理解这些限制以及在必要时进行更复杂的测量，从而达到控制这些限制的目的。
