你是否缺乏精确的光谱工具,来设计你的荧光检测仪器?
许多成像系统设计者与不足的光谱分析资源作斗争。
这导致了次优性能,并增加了成本和开发时间。
有许多因素阻碍了精确荧光成像系统的发展。
资源分散 - 资源缺乏集中化,因为您必须手动识别、准备和维护来自各种供应商和文献的光谱成分数据。
功能不足 - 大多数光谱可视化工具是不足的,
因此限制了可以同时绘制的组件的数量和类型。
缺乏计算 - 大多数工具没有系统计算或优化功能,无法准确分析光谱组件。
花费时间 - 迫使您创建和维护自己不同的建模和分析工具,
导致大量开发时间和精力的浪费。
为了克服这些障碍,我们的工程师创建了 SearchLight™ 在线绘图工具。
该工具使您能够通过详细的光谱可视化功能和精确的系统计算,来优化荧光成像系统的各个方面。
直观的界面 - SearchLight™ 将仪器设计提升到一个全新的水平,
它的直观界面提供了广泛的组件数据库,允许您准确分析光谱组件,以显著地提升性能并降低开销。
先进的功能 - SearchLight™ 通过先进的功能改进了您的设计方式,使您能够轻松选择光谱元素,
可视化属性,
很快计算关键参数,如信号亮度和信噪比
。
合作的方式 - SearchLight™ 也是一种与同行合作的强大方式,
通过基于网络的数据管理,您可以改变设计方式
,尽快做出决定,
并减少浪费的开发时间。
“您的用于计算滤光片特性与入射角的函数的工具非常有用。非常有用的工具。非常感谢!”
Jeppe SD - 丹麦理工大学
使用 SearchLight™,全速助推您的成像系统的光谱设计。
观看以下视频,学习如何使用该工具。