教育材料
KolaDeep™ 光谱测量系统：测量更深的阻挡
新的基于荧光的生命科学和生物医学仪器越来越多，需要具有非常高的阻挡（OD）和陡峭的光谱边缘的好的滤光片，其在高透射和高OD之间转换。因此，我们 IDEX Health & Science 的 Semrock 工程师开发了 Kola Deep™ 光谱测量系统（SMS），这是一个专有的获过奖的平台，用于对我们的滤光片的陡和深的光谱特性进行经验证的测量。该系统用于日常生产，使由这些滤光片制成的仪器能够达到预期性能。
Kola Deep™ 光谱测量系统的功能包括：：
- KolaDeep™ 在紫外、可见光和近红外范围内的波长范围内测量 OD 8-9 的阻挡，以及 OD 11的光谱特征。
- KolaDeep™ 解决了测量难题：从 90% 透射到 OD>7 的边缘波长大于0.2%的边缘。
上图显示了在定制五带滤光片上测量的 OD 。通带之间的阻挡规定为OD 8 以上，以减少激发光泄漏。理论和测量结果均符合 OD>8，OD>9 至噪声基底的部分阻挡。
我们的工程团队对 KolaDeep™ 进行了广泛的鉴定测试，以表征和确认系统的波长和光度精度。
白皮书“IDEX Health & Science Semrock 的高级光谱测量系统”介绍了 Semrock 的六个样本和分析基于 KolaDeep™ SMS 测量的滤光片，这里显示了一些。
KolaDeep™ SMS 在 UV 和 NIR 光谱范围内表现良好。1064 nm Semrock MaxLine® 激光线消杂滤光片的示例如下所示。测量值（红色）确认所需的阻挡，并与理论设计（绿色）一致，OD>7。来自高级商用系统的数据（蓝色）在 OD 3 以上不准确。
下图显示了定制六陷波滤光片的光谱性能，该滤光片设计用于确保六条激光线的精确阻挡。该客户要求确保每条激光线路在特定水平上可重复阻挡。使用我们的 KolaDeep™ SMS 测量的光谱显示了精确的匹配 即使在 UV 区域。测量的阻挡（红色）与理论（绿色）相匹配。
有关此主题的更多详细信息，请下载我们的白皮书 高级光谱测量系统和 Semrock 滤光片。
在选择满足您的定制滤光片需求的合作伙伴时，拥有经过验证的规格数据非常重要。 联系我们 了解我们如何与您的合作，如何使用我们的 KolaDeep™ 光谱测量系统提供您的定制滤光片的实际数据测量。