IDEX Health & Science 公司装运的每个 Semrock 品牌滤光片都经过检验，并通过了相关的表面度规范，根据情况采用了 ANSI 或 ISO 10110 检验程序。 如果客户希望检查滤光片是否符合外观规格，则再次需要遵循适用的外观检查程序。

为了检查有限数量的滤光片的表面度，可以使用 RMA# 将滤光片返回 IDEX Health & Science 生产设施进行检查； 检查结果将与客户共享。

如果要在客户现场持续检查滤光片的表面度参数，客户必须制定符合相应表面度（Cosmetics）规格的检查方法。 我们的团队乐于就基本步骤和要求提出建议，但不负责在客户现场实施这些检查方法。

建立这样的表面度检查系统通常需要在这一过程中有经验的人的帮助，他们将购买相关的标准文件、可视化设备和比较标准。然后，该人员将为日常使用检查系统的人员制定培训计划。点击此处，观看视频。

 

如果您对特定应用有进一步的问题，请联系 技术支持 以获得帮助。

SearchLight™

SearchLight 工具也可以建模不同入射角度的光谱！

对于给定的滤光片，请使用 SearchLight™ 来建模不同入射角和锥半角下的光谱表现。

步骤如下：

1. 在左侧栏的 Filters 下拉栏中，双击载入选定滤光片的常规入射角下的光谱数据。

2. 点击中间栏的光谱图右下角的“设定”按钮，输入您想查看的光谱范围。

3. 点击右侧栏的选定滤光片右侧的灰色按钮，展开菜单，选择第二项“Model this filter...”

4. 在弹出窗口中输入您所需的入射角度和锥半角的数据，点击确定。您就可以看到此滤光片在不同入射角度和锥半角下的光谱表现。

5. 此时， 右侧栏的窗口下方会出现一个新的滤光片，命名规则为“滤光片名称；- 入射角度=；- 锥半角=”，点击其右边的灰色按钮，展开菜单的第二项“Dowload”，即可下载其改变角度后的光谱数据 txt 格式。

6. 下载后的 txt 数据，可以复制粘贴到《Semrock光谱表》 中，同时显示光谱数据和光谱曲线图。

我们鼓励您 联系我们 获取进一步的帮助。

入射角或 AOI 是准直光束入射到滤光片的表面上的角度，相对于表面法线测量。锥半角（CHA）是指与非准直入射光束相关的角度范围，并从 AOI 到锥角进行测量。

改变入射光的 AOI 或 CHA 将改变滤光片的光谱响应。有关不同类型的 Semrock 滤光片如何响应 AOI 变化的更多信息，请查看我们的技术说明： 非常规入射角下的滤光片光谱。 对 CHA 的光谱响应取决于许多因素，因此请联系 技术支持 以讨论您的特定应用。

网站上每个滤光片的“规格 Specifications ”选项卡中列出了滤光片性能的适用的 AOI 和 CHA 范围。给出的 AOI 和 CHA 规范是排他的；当您在网页上标定的角度范围之外使用时，滤光片的光谱表现可能不符合网站上列出的“规格 Specifications”。

ASCII 数据通常是一个具有两列的文本文件。第一列是波长（以 nm 纳米为单位），第二列是该波长处滤光片的相应透过率值。透射值的范围为 0 到 1（或 0％ 到 100％）。您可以在 Semrock 网站上下载所有滤光片的 ASCII 数据。

查看滤光片的详细信息时，您将在光谱图形的 X 轴 或 Y 轴上找到蓝色的保存图标，这就是该滤光片的 ASCII 数据链接。单击蓝色图标以保存文本文件的副本，该文件可用于绘制滤光片的光谱图。

 

 

FWHM ≅ GMBW + 0.01 x CWL

因此，对于图中所示的示例，FF01-520 / 35 滤光片的 GMBW 为35 nm，FWHM 为 35 nm + 520 nm 的 1％ 或 40 nm。

通光孔径

如果您想获取定制镀膜滤光片的报价，请填写我们的  定制滤光片规格表， 然后通过邮件发给我们 service@semrock.cn.

我们的大量离子束溅射（IBS）工艺可提供很好的性能，可重复性和价值。我们的设计师将根据您对光学滤光片的需求进行设计，并在其他领域（例如光学模组设计和测量平台）中增加价值。从原型到生产，您都可以依靠我们提供的设计建议，无与伦比的性能和坚如磐石的牢靠性。要了解有关如何从我们的经验中受益的更多信息， 请联系  Semrock 的技术支持  或 致电我们  ，讨论所有可用选项。

对于我们网站上的大多数目录产品，Semrock 提供尺寸定制的服务。如果您需要一个无外框（未装配）的圆形或方形的滤光片，或者想把产品装配（安装）在 Semrock 的标准尺寸的金属铝环中，请使用在线的定制尺寸工具来计算定制尺寸产品的价格，您可以把产品型号和价格告诉您附近的本地经销商来进行购买。

点击灰色按钮后，灰色按钮变成绿色，则尺寸价格计算器功能被激活，并呈现在您面前。

下载在线定制尺寸价格计算器的操作说明

提醒：大多数的定制尺寸的滤光片都可在一周内发货。请您在对应的产品页面下方的定制尺寸计算区域中，简单输入您需要的圆形的直径、方形的尺寸或者需要的外框的直径。Semrock 目前支持所有从 5 mm 到 50 mm 之间的整数毫米的尺寸。此外，我们也支持常用的英制尺寸，如 12.7 mm (1/2 inch)、25.4 mm (1 inch)、和 50.8 mm （2 inches），约可在一周内发货。如果您需要一个非上述所列举的尺寸，比如说您需要直径 31.4 mm 的无外框的产品？我们也可以提供！请联系我们的销售人员或者本地的代理商，我们将根据要求给您报价并提供货期（一般需要两周），Semrock 也提供标准尺寸的铝制外框/边框，包括以下尺寸: 12.5 mm、25 mm（和 25 mm Sutter 螺纹框）、32 mm、和 50 mm。

每一个支持定制尺寸的产品页面上都可以看到尺寸价格计算器，基质、裸片（Substrate）的厚度和公差都和对应型号的标准产品一样，并在产品页面列出，请点击产品光谱图下方的产品参数（Specification）来了解详情。

如果您需要的产品尺寸超过上述限制，请联系 Semrock service@semrock.cn  取得报价。

 

有关特定滤光片的折射率参数，请联系 Semrock 滤光片团队，我们很乐意为您提供。

如何辨别滤光片的安装方向?

Semrock 提供两种类别的目录滤光片：未装配外框的滤光片，例如二向色分光镜，反射镜和可调式滤光片，或安装在黑色阳极氧化铝外壳中的带框滤光片。带框的滤光片包括带通滤光片，边缘滤光片和一些二向色镜分束镜。对于未安装外框的滤光片，未安装的滤光片厚度和未安装的基材厚度是相同的。对于已装配的带外框的滤光片，安装外框后的滤光片厚度和未安装的裸片基材厚度不同，因为安装外框的滤光片的厚度与外框厚度相同。

每个装配好的带框的滤光片均有 3.5 毫米 或 5.0 毫米的标准滤光片（外框）厚度。带框的 3.5 毫米滤光片用作滤光片组的一部分通常是发射滤光片。5.0 毫米滤光片是滤光片组常用的激发片。3.5 毫米厚的外框可容纳 1.05 毫米至 2.0 毫米的裸片基材厚度；5.0 毫米厚的外框，可容纳从1.05 毫米到3.5 毫米的裸片基材。

每个标准目录产品，其安装在外框中的每个滤光片的尺寸在“Specification 参数”的选项卡（见下文）中显示为“横向尺寸（直径）”。

以 GFP-3035D 通用滤光片组中的激发片和发射片滤光片为例。FF02-472/30-25 激发片安装在 5.0 毫米铝制外框中，如下所示。

FF01-520/35-25 发射片安装在 3.5 毫米厚铝制外框中，如下图所示。

对于目录配置中的二向色镜分束镜和其他未装配外框的滤光片，“Specification 参数”选项卡上的滤光片尺寸显示为“矩形尺寸x标称基材厚度”。

如下图所示，GFP-3035D 滤光片组的 FF495-Di03-25x36 二向色镜分束镜尺寸为 25.2 mm x 35.6 mm，标称基板厚度为1.1 mm（通常在规格标签上列为 1.05 mm），并且是不带外框的。

滤光片的物理规格的详细信息也列在产品的“Specifications 规格”选项卡上（请参阅下文）。如：滤光片的厚度，是否装配，未装配时的基材厚度，滤光片的直径公差，装配后的厚度等参数。

 

定制尺寸的未安装外框的圆形或矩形的滤光片的厚度是指基材的厚度。

Semrock 目录滤光片的镀膜基材厚度为 0.5 毫米、1.05 毫米、2.0 毫米、3.0 毫米、3.5 毫米和 6.0 毫米；每个产品系列都镀在一个特定的厚度上。购买前，请确保验证滤光片的厚度以及该厚度是否适合安装和应用要求。

有关滤光片，基材或外框厚度的问题，请联系  Semrock 滤光片团队。

波前扭曲会导致成像质量降低，因为此时，信噪比降低了，也损失了分辨率。在若干显微镜应用中，降低波前扭曲对于达到该显微镜学方式来说尤为重要。

Semrock 提供很多滤光片产品，因为不同的应用对于平整度有不同的要求，所以 Semrock 的产品有不同等级的平整度/反射波前差（Flatness/RWE）。 我们列出了平整度区分提供一个选择产品的教学式的途径，以帮您选择适合您的应用的平整度对应的滤光片产品。

关于此技术资源的更多信息，请阅读"如何根据平整度/反射波前差来选择合适显微镜方法的二向色镜分光镜 (中文)。

光学密度（Optical Density或称为 OD）是描述光通过高度阻挡的光学滤光片（当光的传输非常小时）的透过率的一种方便工 具。OD 简单地定义为对数（底为 10 ）的负变量。变量在 0 和 1 之间变化(OD = – log10(T))。因此，透过率就简单等于 10 的负 OD 值的 方 (T = 10– OD)， 左图显示了 OD 的影响：6 个数量级（ 1000000 次）的透过率变化，非常简单地用介于 0 到 6 的数字来表示；下面中间的示例表和右下的“法则”列表提供了一些方便的技巧，可以在 OD 和透过率之间快速转换。将变量 T 乘以2（或除以10）等于减 去 0.3（或加上 1 ），就转换成了 OD 。

OD = – log ₁₀ (T)
或者
T = 10 ^-OD

光密度本底噪声：

通过精心优化我们的测量设备和方法，Semrock 能够提供一些优化的宽带光密度（OD）测量可能。 以下是此网站上显示的大多数测量数据的典型 OD 噪声本底限制。

• 对于介于 320 和 1120 nm 之间的波长，接近或低于 3e-7（光学密度 6.5 ）的透射值受到测量噪声的限制。
• 对于波长<320 nm 且在 1120-1500 nm 之间的波长，接近或低于 3e-6（光学密度 5.5）的透射值受到测量噪声的限制。
• 对于大于 1500 nm 的波长，接近或低于 1e-5（光学密度 5.0）的透射值受到测量噪声的限制。

同样，对于某些滤光片和/或某些阻挡波长范围，显示的本底噪声仅为 OD 4。

通用产品命名约定如下：

对于具有多个等级可供购买的零件，等级是通过以下方式指定的： 产品命名约定与等级 :

以下是帮助您关联零件号和产品系列的指南。不适用于用户定制的产品型号。

缩写	代表...	产品家族
BLP	基本型长通	EdgeBasic™
BSP	基本型短通	EdgeBasic™
-D	未装配，无金属外框	全部
Di	二向色镜	BrightLine®
E	E-等级 滤光片	RazorEdge®, StopLine®
Em	发射片	BrightLine®
FDi	平的二向色镜, 用于成像应用	BrightLine®
FF	荧光滤光片	BrightLine®
FRET	荧光共振能量转移	BrightLine®
Hg	汞的元素符号，汞灯线	MaxLamp®
LD	激光二极管，半导体激光器	MaxDiode®
LF	基于激光器的荧光	BrightLine®
LL	激光线	MaxLine®
LM	激光合束 Laser mux	LaserMUX™
LP	长通	BrightLine®, RazorEdge®
LPD	长通二向色镜	RazorEdge Dichroic
M	发射片	BrightLine®
-N	无标记	All
NF	陷波滤光片	StopLine®
NIR	近红外	Near-IR
PBP	偏振带通	Polarizing bandpass
QD	量子点	BrightLine®
R	反射的	BrightLine®, RazorEdge®
S	S-级别滤光片	RazorEdge®, StopLine®
SDi	短通二向色镜	BrightLine®
SP	短通	RazorEdge®
-STR	Sutter 螺纹框	所有 (基材厚度需 ≤ 2 mm )
T	透射	BrightLine®
TBP	可调式带通	VersaChrome®
U	U-级别滤光片	RazorEdge®, StopLine®
X	激发片	BrightLine®

像素位移会导致光线偏离，使在高分辨率 CCD 相机上检测到的图像发生偏移。当多色荧光图像叠加时（为了同时从多个荧光染料中观察荧光），大家会重叠不同滤光片组获得的同一物体的两个或多个图像，如果滤光片存在任何显著的非零度的楔形角，就会导致图像不能注册（或成像）到 CCD 相机上的相同像素。 因此，不同荧光染料产生的图像将无法准确地关联或组合。BrightLine–ZERO 滤光片组基板的制造和严格测试达到了认证的“零像素位移”性能的公差。

BrightLine ZERO™ 选项是滤光片组组之间的图像位移测量值，即：交换 Semlock ZERO 滤光片组的 Max 的图像偏移将小于±1像素，测试使用了大量的滤光片组，取平均值。分析条件为标准显微镜、准直 光，使用 200 mm 焦距的筒镜和 6.7 微米的像素大小。测试使用了常规显微镜。。

当光以非法线入射角入射到滤光器上时，可以通过与光波电场方向相关的两个正交矢量分量来描述光的偏振。偏振被称为“入射平面”，或平行于滤光片表面法线并包含入射光线和反射光线的平面。垂直于入射平面的偏振分量称为“ s”分量，而平行于入射平面的偏振分量称为“ p”分量。

我们提供了此资源的白皮书，"了解偏振"

为什么客户的滤光片测量结果与 Semrock 光谱有所不同？

市面上商业化的分光光度计已针对特定的科学和工业应用进行了优化。由于其设计受到价格和性能要求的限制，因此大多数商用分光光度计的精度不足以准确测量光学滤光片的光谱特性，尤其是具有陡峭光谱边缘和深度阻挡特性的 Semrock 滤光片。光源、探测器和衍射光栅的功能限制以及它们的组合性能会在此类滤光片的光谱测量中产生伪影。由于存在这些伪影，客户的滤光片频谱测量结果可能与在 Semrock 进行的测量结果有所不同。

传统分光光度计的灵敏度有限，并且探测光束并非完全单色。由于存在这些局限，实际的滤光片光谱 及其测量结果之间存在三大差异。

 

1. 圆形钝角
   第一个差异是锐利角度的光谱特征的“圆形钝角”. 这种效应主要是由于分光光度计探测光束的非零带宽造成的。Min 带宽受狭缝宽度和光栅周期数量的限制：衍射光栅区域（每毫米给定的光线数量）越大，则分辨率越高。对于给定的f/#（锥角），光栅区域越大，路径 长度也越长，因此需要更大的仪器。分辨率也可通过减小狭缝宽度的方式增大，但是较窄的狭缝将减少通 过单色仪进入探测器的光的数量，从而降低灵敏度。
2. 本底噪声
   光检测器有一个灵敏度限制，超过该限制它就不能报告光强度的变化。该截止水平设置了分光光度计可以测量的高光密度（OD，定义为 -log10(T)) 因此，测得的 OD 可能会低于实际的滤光片性能。当光照强度低于灵敏度极限时，检测系统将报告零信号，但也会报告检测器内产生的任何噪声。在图表上，这表现为“本底噪声”，对应于分光光度计可测量的高 OD。在图中，本底噪声是图形左下角的“嘈杂”频谱区域。由于光源光谱和光检测器光谱响应的变化，本底噪声可能与波长有关。
3. 边带测量假象 “Kink”
   第三个差异比较独特，是测量从高阻断率到高透过率的非常深的过渡，称为“边带测量假象”（见图 3). 当显示为 OD 值的曲线时，通常在边缘谱线的中体现为“弯曲”的形式，发生在 OD 约为 2.5〜4.5 的范围 内，具体取决于分光光度计和波长。这个测量假象来自于以下因素，除了非零带宽的探测光束，还包括非单色探测光束，在带宽范围外的波长上，它还具有微弱的边带（主要来自光栅上的瑕疵）。当探测光束定 位于深边缘的波长上，探测波长上一侧的边带噪音通阻断光片在其通带内透过，因此，在探测器上记录到较大信号并导致测得较低的 OD 值。这是测量结果就显示出不是以 OD 级递减的假象。在商用仪器中，除非添加额外的滤光片，几乎没有能够减少这种边带的问题。

有关 Semrock 滤光片性能的过程的更多信息，请下载我们的白皮书,  《光学滤光片光谱的测量》

该图蓝色显示 Semrock LP03-532RU-25 RazorEdge® 滤光片的设计光谱。红色显示使用商用分光光度计进行测量

Semrock 与 Sutter Instruments 公司合作，为我们的滤光片设计并引入了一个集成滤光片轮安装环，该环的螺纹与 Sutter 滤光片转轮中的开口相匹配。通过这种包含在内的安装系统，将滤光片和带螺纹的固定环合并到一个组件中（见图1）。传统上，Sutter 滤光轮被设计为可以接受厚度 Max 为 9 mm 的光学滤光片，每个滤光片转轮位置均包含一个由滤杯（Cup）和固定环组成的安装硬件系统。Semrock / Sutter 集成一体的螺纹环解决方案设计为在卸下滤杯（Cup）和固定环之后安装。消除了对滤杯和外环硬件的需求。

上图： 左：传统安装的光学滤光片。右：Semrock / Sutter 螺纹环安装座

请注意，Sutter 的设备中，有些不支持螺纹框，有些不支持传统的平框，请咨询 Semrock 或者 Sutter 公司后再决定是否购买带 -STR 的型号。

“ Sutter 螺纹环”选项可适用于所有 Semrock“ Pinkel”（带多波段发射片的单波段激发片）和“ Sedat”（单带激发片和发射器）多色滤光片组。该选项由附加在滤光片组目录零件号上的后缀“ -S01”表示，价格上：带有“ Pinkel”组中每个激发滤光片或“ Sedat”组中每个激发和发射滤光片标称价格溢价 20 美元。

可以使用 Sutter 螺纹环选件购买基材厚度 ≤2 mm 的单个目录滤光片。该选项由附加在产品目录号后缀“ -STR”表示，并带有每个带 -STR 的滤光片价格增加20美元。

Sutter 螺纹环用激光标记有箭头，以指示光传播方向（DLP）。

• 激发滤光片：箭头指向螺纹方向上的肩部。当将滤光片插入激发光路径中使用的 Sutter 的 Lambda 10（螺纹款）的滤光片轮中时，DLP 中的箭头指向显微镜。
• 发射滤光片：箭头指向两个凹口方向，远离肩膀。当将滤光片插入发射光路径中使用的 Sutter 的 Lambda 10（螺纹款）滤光片轮中时，DLP 中的箭头指向远离显微镜并指向探测器的方向。

    

上图： 左：Sutter 螺纹环形箭头方向-激发片 右：Sutter螺纹环形箭头方向-发射片

有关将安装在 Sutter 螺纹环中的滤光片安装到 Sutter 滤光片转轮中的更多详细信息，请阅读《Sutter 螺纹环安装指南》。

叠加滤光片 - 得到更大的 OD

通过将两个或多个滤光片组合在一起，可以增加阻挡（即 OD 值增加）。但是，对于现代的高性能滤光片，它们几乎都是通过反射来阻挡光线，因此，仅仅通过将两个滤光片彼此紧紧堆叠在一起来尝试增加滤光效果，效果不会特别明显。这种紧密重叠组合滤光片明显增加阻挡只有在滤光片之间的多次反射被减少或消除时才有效！例如，当两个 OD 6滤光片彼此紧邻组合时，净总 OD 实际上为 6.3，而不是天真的假定的 OD 12。

幸运的是，使用以下方法，仅引入少量损耗（例如，通过分离和倾斜滤光片）就可以将净OD快速增加到接近12的值。

图1：（a）当非相干光通过两个紧邻且平行的涂层或滤光片透射时，净透射率不只是两个滤光片透射率值的乘积（T≠T1 x T2）。因此，净 OD 值不只是各个 OD 值的总和。（b）通过倾斜和分离两个滤光片故意在两个滤镜之间引入损耗，可以使 OD近似相加。（c）通过两个相同的平行滤光片计算出的非相干光的净透射率，是通过一个滤光片的透射率的函数，以（c）线性和（d）对数标度显示。请注意，两个 OD 6 滤光片之间没有损耗，导致净 OD 为 6.3，而仅引入 1％（或 10％）的损耗会使净 OD 增至 10（或 11）。

如图1（a）所示，当非相干（例如荧光）光通过两个紧邻的涂层或滤光片透射时，净透射率不只是两个滤光片透射率值的乘积。在两个滤光片之间增加一些损耗会减少多次反射的次数，因此，随着损耗增加（ TL 从 100％ 减小），较低值（较高 OD）的透射率开始接近两个透射率值的乘积。损耗可能是由涂层或滤光片上或之间的少量吸收或散射引起的，或者可以有意地将其引入两个滤光片之间，以通过使滤光片彼此相对倾斜来增加净阻挡（OD），如图1（b）所示。图1（c）和（d）展示了两个相邻并行滤光片之间的实际透射率之间的差异（无损耗情况），与净透射率是各个透射率值（红色曲线）的乘积的错误假设相比，两个滤光片之间引入了少量损耗（分别为 1％ 和 10％ ）。请注意，较大的透射率值之间几乎没有差异，但是对于非常小的透射率（高 OD）值，该差异变得非常明显。

以下是引入损耗的某种方法举例：

您可以组合不同制造商的单片滤光片以获得一套滤光片组一起使用吗？

我们设计的滤光片同时设计为可以很好地协同工作。由于我们特殊的激发和发射滤光片设计，可能未对其他公司的滤光片进行优化以与 Semrock 滤光片一起使用。为了获得好的结果，我们建议使用同一制造商的滤光片产品，旨在共同工作的激发片和发射片组合。

为什么我们需要清洁光学滤镜？

目的：通过荧光显微镜评估脏滤光片的效果。

材料和方法：

“ 3T3”样品由 Mike Davidson 提供，Molecular Expressions™，由用 BODIPY FL – Phallacidin 标记的白化瑞士小鼠胚胎组成，使用 Olympus BX41 显微镜用 Semrock FITC-3540B 滤光片组成像。

使用干净的滤光片获取图像（图像-1），并使用相同的 FITC 立方体 Cube 获取另一幅图像（图像-2），其中二向色镜和发射滤光片的一个表面被指纹弄脏。然后，在没有样本的情况下，获取了第三张图像（图像3）以计算背景噪声。

为了确保结果不会因样品的光漂白而产生偏差，在使用干净的滤光片获取图像之前，先获取带有污脏滤光片的图像。

结果：

图像3的背景计数= 657.8

               

左图：使用清洁立方 FITC，洁净的滤光片组：带有背景减法之后的 Image-1。右图：使用污脏滤光片：带有背景减法之后的 Image-2。红框：用于计算的计算感兴趣区域。

平均信号 左图 3148               右图2833

标准偏差 左图 296                 右图272

平均信号变化百分比

（（（3148 – 658）–（2833 – 658））/（3148 – 658）= 12.6％

结论：

稍微污脏的滤光片组会会导致严重的信号损失。因此，保持滤光片清洁很重要。

如何选择或使用激光合并或分离的光学部件?

LaserMUX™ 滤光片旨在以 45° 入射角有效地合并或分离多个激光束。这些二向色镜，用途为激光束合并或者分离经过优化，可以多路复用（MUX）流行的激光线，也可以反向使用 - 反向多路复用（DEMUX）使用。低自发荧光滤光片非常适合 OEM 多激光荧光成像和测量应用，包括激光显微镜和流式细胞仪，以及实验室环境中众多的用户应用。

（备注：激光等级平整度或以上的二向色镜都可用于激光束合并或分离。）

安装方向

为获得好的性能，当该系列的滤光片用于合束 MUX 时，箭头指向透过的和合并的激光束；当该系列的滤光片用于分束 DEMUX 时，箭头指向进来合束的和出去反射的激光束。

为获得好的性能，请按照滤光片外框上的箭头指示的方向正确使用。

合束时，箭头方向如下图所示：

分束时，箭头方向如下图所示：

平整度选择型号名称指南

为获得对应的平整度，请使用专业的夹具和正确的装配方式，避免应力或者挤压等导致滤光片变形，导致光斑变形。安装时，为保持对应产品的平整度，请让其舒展，并均匀受力，切勿不均匀受力挤压或者扭曲变形。

如何获取产品的绘图文件?

我们的绘图文件/图纸旨在帮助您了解光路要求的具体方面，并为您提供方便。 前往查看

我们提供 Auto CAD PDF格式、Auto CAD DXF、Solidworks、eDrawings、Step 格式的绘图，供您下载。

我们鼓励您 联系我们 获取进一步的帮助。

滤光片边缘涂黑涂料的使用寿命是多久？有没有特殊的方法来清洁这些滤光片？

边缘涂黑涂料的目的是：在滤光片的使用寿命内，保持与玻璃表面的粘附性，而不会分解和/或脱落。前提是滤光片边缘上的涂料既不会被外部试剂磨损，也不会使用化学试剂如丙酮。合适用途的实例包括：在不暴露于此类溶剂的情况下稳定地固定在组件或壳体中。边缘涂黑的滤光片已经在我们的光学系统中使用了十多年，我们没有遇到来自光学系统客户的关于边缘涂黑涂料的投诉。

请使用异丙醇（IPA）或甲醇清洁边缘涂黑的滤光片，因为这些溶剂不会影响边缘变黑油漆，前提是温和的清洁，即不具有攻击性或持续时间过长。不要使用丙酮，因为这样会去除油漆。

您也可以下载这篇文章 清洁 Semrock 滤光片 (PDF) ，它解释了清洁过程对提高光学器件寿命和性能的重要性。应使用适当的材料、技术和处理程序，以将损坏风险降低。

请观看视频 如何清洁 Semrock ^® 边缘涂黑的滤光片。 我们鼓励您 联系我们 获取进一步的帮助。

请使用 荧光染料的光谱参考表 ，选择适合您的应用的 Semrock 滤光片组。

对于给定的荧光染料，使用 SearchLight™ 来找到和建模滤光片组。